Beckman Coulter·Análisis de partículas
LS 13 320 XR
Analizador por difracción láser con detección directa de 10 nm a 3500 µm.
Cotizar o consultar
1 / 7Descripción
Conoce el equipo
El LS 13 320 XR es un analizador de tamaño y distribución de partículas por difracción láser, con un rango de medición de 0.01 a 3,500 µm en una sola medición, sin necesidad de cambio de óptica ni recalibración. Combina la difracción láser clásica con tecnología PIDS (Polarization Intensity Differential Scattering), que resuelve partículas submicrométricas con una precisión comparable a la dispersión dinámica de luz (DLS).
Es el instrumento de elección para laboratorios farmacéuticos, de alimentos, materiales e investigación que no admiten compromisos en exactitud, repetibilidad o cumplimiento regulatorio.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Dispersión de la muestra
Introducción por flujo negativo, que preserva la integridad de las partículas y limita la variación entre réplicas a menos del 2.5% (CV).
Irradiación multiángulo
El haz láser genera un patrón de difracción captado simultáneamente por más de 90 detectores en múltiples ángulos.
Análisis PIDS (rango submicrón)
Procesa las diferencias de polarización de la luz dispersada para resolver partículas de 0.01 a 0.4 µm, rango que la difracción convencional no distingue.
Reporte y trazabilidad
El software genera distribuciones en segundos, con superposición de datos históricos y firma electrónica conforme a 21 CFR Parte 11.
Complementos
Adáptalo a cada tipo de muestra
Módulos de análisis intercambiables sin herramientas: permiten analizar la misma muestra en distintas condiciones sin adquirir instrumentos separados.
Universal Liquid Module (Líquidos)
Dry Powder System (Polvos Secos)
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Rango más amplio del mercado
0.01 µm a 3,500 µm en una sola medición, sin cambio de óptica ni recalibración
Tecnología PIDS integrada
Resuelve partículas de 0.01 a 0.4 µm con precisión comparable a DLS, en la misma medición que el rango completo
Flujo negativo de muestra
Preserva la morfología de las partículas; CV < 2.5% entre réplicas
Superposición de datos históricos
Compara el perfil actual con lotes anteriores en una sola pantalla; identifica desviaciones en segundos
Cumplimiento 21 CFR Parte 11
Firma electrónica, pista de auditoría y controles de acceso para entornos GMP farmacéuticos
Criterios automáticos de aceptación
Evaluación automática pass/fail por método, eliminando la subjetividad en control de calidad
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del LS 13 320 XR
- Principio de medición
- Difracción láser + PIDS (Polarization Intensity Differential Scattering)
- Rango de tamaño de partícula
- 0.01 µm – 3,500 µm (rango completo, sin cambio de óptica)
- Fuente de luz
- Láser de estado sólido de 750 nm + PIDS multi-longitud de onda
- Resolución submicrón
- Tecnología PIDS: 0.01 – 0.4 µm
- Número de detectores
- >90 detectores activos en múltiples ángulos
- Repetibilidad (CV)
- <2.5% (flujo negativo de muestra)
- Módulo Universal de Líquidos
- UML — recirculación + sonicación
- Módulo de Polvos Secos
- DPS — dispersión neumática ajustable
- Solventes compatibles
- Acuosos y no acuosos (orgánicos)
- Cumplimiento regulatorio
- 21 CFR Parte 11, ISO 13320, USP <429>, EP 2.9.31
- Software
- Pista de auditoría, firma electrónica, superposición de datos históricos
- Criterios pasa/falla
- Configurables por método, con evaluación automática
- Fabricante
- Beckman Coulter Life Sciences
Documentación
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