ZEISS · Microscopía de rayos X

Versa XRM 615

Versa XRM 615 — microscopio de rayos X de Zeiss (Spatial Resolution: 500 nm nm).

500 nm nm

Resolución

40 nm nm

Minimum Achievable Voxel

30 – 160 kV kV

Voltaje

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Versa XRM 615 / Zeiss

Versa XRM 615 es un(a) microscopio de rayos X de Zeiss, indicado para tomografía no destructiva, análisis interno 3d, caracterización de materiales. Especificaciones destacadas: Spatial Resolution: 500 nm nm; Minimum Achievable Voxel: 40 nm nm.

Aplicaciones ideales
  • Tomografía no destructiva
  • Análisis interno 3D
  • Caracterización de materiales
Especificaciones
Resolución
500 nm nm
Minimum Achievable Voxel
40 nm nm
X-ray Source Architecture
Sealed transmission, fast activation
Voltaje
30 – 160 kV kV
Maximum Output
25 W W
Standard Objectives
0.4×, 4×, 20×
Optional Objectives
40×, Flat Panel Extension (FPX)
Capacidad
25 kg kg
Sample stage travel x
50 mm mm
Sample stage travel y
100 mm mm
Sample stage travel z
50 mm mm
Resolución
1.0 μm μm
Resolución
700 nm @ 50 mm nm
Industrias
MaterialesInvestigaciónElectrónicaGeociencias

Modelos de la familia

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