Personal técnico certificado por los fabricantes
Ficha técnica
ZEISS·Microscopía de rayos X
Versa XRM 615
Versa XRM 615 — microscopio de rayos X de Zeiss (Resolución espacial: 500 nm).
Descripción
Conoce el equipo
El ZEISS VersaXRM 615 amplía los límites de la exploración con una innovadora tecnología óptica y de fuente. Gracias al mayor flujo y al reconocimiento basado en inteligencia artificial, se obtienen tomografías más rápidas con una resolución y un contraste líderes en la industria. Es la opción de la familia Versa orientada a la captura de imágenes submicrónicas más rápida, dentro del portafolio de microscopios de rayos X 3D avanzados ZEISS Versa.
Los microscopios de rayos X ZEISS Versa cuentan con interfaces de usuario intuitivas que garantizan que cualquier usuario maximice su productividad y consiga resultados excepcionales, priorizando la resolución real en entornos prácticos. Es la elección de eficacia demostrada de investigadores y científicos de todo el mundo, permitiendo observar hasta los detalles más pequeños con una claridad incomparable, de forma no destructiva.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio de rayos X 3D de captura de imágenes submicrónicas rápidas, el ZEISS VersaXRM 615 opera en cinco etapas:
Generación de rayos X con tecnología de fuente innovadora
Un mayor flujo de rayos X permite obtener tomografías más rápidas sin sacrificar calidad de imagen.
Óptica avanzada para resolución submicrónica
Detectores de rayos X patentados, alojados dentro de la torreta del objetivo del microscopio, permiten alcanzar una resolución espacial de 450 nm.
Adquisición rápida de tomografías
El sistema permite obtener tomografías en un minuto, con captura de imágenes 3D de principio a fin.
Reconstrucción asistida por inteligencia artificial
La Advanced Reconstruction Toolbox (ART) introduce métodos de reconstrucción basados en IA mediante sus módulos DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve y OptiRecon, mejorando la velocidad de obtención de datos, la velocidad de reconstrucción y la calidad de imagen sin comprometer la resolución.
Guía y control mediante ZEN navx
Una interfaz centrada en el usuario garantiza una experiencia intuitiva que maximiza la productividad, independientemente del nivel de experiencia del operador.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Captura de imágenes submicrónicas más rápida
Posicionamiento distintivo dentro de la familia Versa
Resolución espacial de 450 nm
Con detectores de rayos X patentados en la torreta del objetivo
Tomografías de un minuto
Captura de imágenes 3D de principio a fin
Tecnología innovadora de fuente y óptica
Amplía los límites de exploración
Mayor flujo de rayos X
Tomografías más rápidas sin sacrificar calidad
Reconstrucción basada en IA (ART)
DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve, OptiRecon
Resolución y contraste líderes en la industria
Reconocimiento basado en IA
Interfaz ZEN navx
Guía y control centrados en el usuario
Captura de imágenes no destructiva
Preserva la integridad de la muestra en 3D
Estabilidad y precisión reconocidas
Compromiso de ZEISS con la calidad a largo plazo
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del Versa XRM 615
- Spatial Resolution
- 500 nm nm
- Minimum Achievable Voxel
- 40 nm nm
- X-ray Source Architecture
- Sealed transmission, fast activation
- Voltage Range
- 30 – 160 kV kV
- Maximum Output
- 25 W W
- Standard Objectives
- 0.4×, 4×, 20×
- Optional Objectives
- 40×, Flat Panel Extension (FPX)
- Sample stage load capacity
- 25 kg kg
- Sample stage travel x
- 50 mm mm
- Sample stage travel y
- 100 mm mm
- Sample stage travel z
- 50 mm mm
- Resolution at a Distance (RaaD)
- 1.0 μm μm
- Resolution Performance at a Distance
- 700 nm @ 50 mm nm
- Tipo de instrumento
- Microscopio de rayos X 3D (XRM)
- Familia
- ZEISS Versa (Xradia Versa)
- Posicionamiento del modelo
- Captura de imágenes submicrónicas más rápida
- Resolución espacial
- 450 nm
- Velocidad de tomografía
- Desde 1 minuto
- Tecnología de reconstrucción
- Advanced Reconstruction Toolbox (ART): DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve, OptiRecon
- Software de control
- ZEN navx (interfaz centrada en el usuario)
- Detectores
- Patentados, alojados dentro de la torreta del objetivo del microscopio
- Actualización en campo
- Disponible dentro de la familia de conversión progresiva Versa (Context microCT, CrystalCT, Xradia 510/515/520 Versa, Xradia 610/620 Versa, hasta VersaXRM 730)
- Aplicaciones principales
- Captura de imágenes 3D no destructiva de muestras intactas, investigación de materiales, ciencias de la vida
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Equipos relacionados
También te puede interesar
¿Te interesa el Versa XRM 615?
Cuéntanos tu aplicación y un especialista de Inolab te ayuda con la configuración, la demostración y la cotización.