ZEISS·Microscopía de rayos X
Versa XRM 615
Versa XRM 615 — microscopio de rayos X de Zeiss (Spatial Resolution: 500 nm nm).
500 nm nmResolución
40 nm nmMinimum Achievable Voxel
30 – 160 kV kVVoltaje
Descripción
Conoce el equipo
Versa XRM 615 es un(a) microscopio de rayos X de Zeiss, indicado para tomografía no destructiva, análisis interno 3d, caracterización de materiales. Especificaciones destacadas: Spatial Resolution: 500 nm nm; Minimum Achievable Voxel: 40 nm nm.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Tomografía no destructiva
Análisis interno 3D
Caracterización de materiales
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del Versa XRM 615
- Spatial Resolution
- 500 nm nm
- Minimum Achievable Voxel
- 40 nm nm
- X-ray Source Architecture
- Sealed transmission, fast activation
- Voltage Range
- 30 – 160 kV kV
- Maximum Output
- 25 W W
- Standard Objectives
- 0.4×, 4×, 20×
- Optional Objectives
- 40×, Flat Panel Extension (FPX)
- Sample stage load capacity
- 25 kg kg
- Sample stage travel x
- 50 mm mm
- Sample stage travel y
- 100 mm mm
- Sample stage travel z
- 50 mm mm
- Resolution at a Distance (RaaD)
- 1.0 μm μm
- Resolution Performance at a Distance
- 700 nm @ 50 mm nm
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