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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía de rayos X
Versa XRM 730
Versa XRM 730 — microscopio de rayos X de Zeiss (Resolución espacial: 450 nm).
Descripción
Conoce el equipo
El ZEISS VersaXRM 730 ofrece más opciones de configuración que cualquier microscopio de rayos X 3D (XRM) avanzado del mercado. El sistema ofrece un nuevo nivel de resolución, lleva la accesibilidad un paso más allá con una experiencia de usuario intuitiva, y acelera la productividad gracias a un rendimiento y un tiempo de obtención de resultados más rápidos. Es el modelo de mayor gama dentro de la familia Versa, posicionado específicamente por su "resolución incomparable con rendimiento".
Los microscopios de rayos X ZEISS Versa cuentan con interfaces de usuario intuitivas que garantizan que cualquier usuario maximice su productividad y consiga resultados excepcionales, priorizando la resolución real en entornos prácticos. Reconocido por su estabilidad y precisión, el compromiso de ZEISS con la calidad es evidente en todos los aspectos de los Versa XRM, garantizando que la inversión resista el paso del tiempo.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio de rayos X 3D de resolución de vanguardia, el ZEISS VersaXRM 730 opera en cinco etapas:
Generación de rayos X de alto rendimiento
El sistema entrega un rendimiento y tiempo de obtención de resultados más rápidos que otros modelos de la familia, sin sacrificar la calidad de imagen.
Óptica avanzada de resolución de vanguardia
Ofrece un nuevo nivel de resolución, la más alta dentro del portafolio Versa, mediante detectores de rayos X patentados alojados en la torreta del objetivo del microscopio.
Amplia configurabilidad
El sistema ofrece más opciones de configuración que cualquier XRM avanzado disponible en el mercado, adaptándose a una gran variedad de aplicaciones y tipos de muestra.
Reconstrucción asistida por inteligencia artificial
La Advanced Reconstruction Toolbox (ART) introduce métodos de reconstrucción basados en IA mediante sus módulos DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve y OptiRecon, mejorando la velocidad de obtención de datos, la velocidad de reconstrucción y la calidad de imagen sin comprometer la resolución.
Guía y control mediante ZEN navx
Una interfaz centrada en el usuario lleva la accesibilidad un paso más allá, garantizando una experiencia intuitiva que maximiza la productividad para cualquier nivel de experiencia del operador.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Más opciones de configuración que cualquier XRM avanzado del mercado
Máxima flexibilidad de la familia Versa
Resolución de vanguardia
Nuevo nivel de resolución dentro del portafolio Versa
Rendimiento y tiempo de resultados más rápidos
Mayor productividad analítica
Experiencia de usuario intuitiva
Accesibilidad llevada un paso más allá
Reconstrucción basada en IA (ART)
DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve, OptiRecon
Interfaz ZEN navx
Guía y control centrados en el usuario
Captura de imágenes no destructiva
Preserva la integridad de la muestra en 3D
Estabilidad y precisión reconocidas
Compromiso de ZEISS con la calidad a largo plazo
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del Versa XRM 730
- Spatial resolution
- 450 nm
- Tomography time (FAST Mode)
- 1 minute
- Tipo de instrumento
- Microscopio de rayos X 3D (XRM)
- Familia
- ZEISS Versa (Xradia Versa)
- Posicionamiento del modelo
- Resolución de vanguardia, máxima configurabilidad
- Resolución espacial
- Nuevo nivel de resolución dentro de la familia Versa (cifra exacta no confirmada públicamente; consultar documentación oficial)
- Tecnología de reconstrucción
- Advanced Reconstruction Toolbox (ART): DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve, OptiRecon
- Software de control
- ZEN navx (interfaz centrada en el usuario)
- Detectores
- Patentados, alojados dentro de la torreta del objetivo del microscopio
- Actualización en campo
- Disponible dentro de la familia de conversión progresiva Versa (Context microCT, CrystalCT, Xradia 510/515/520 Versa, Xradia 610/620 Versa, hasta VersaXRM 730)
- Aplicaciones principales
- Captura de imágenes 3D no destructiva de muestras intactas, investigación de materiales, ciencias de la vida
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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