ZEISS·Microscopía de rayos X
Versa XRM 730
Versa XRM 730 — microscopio de rayos X de Zeiss (Spatial resolution: 450 nm).
450 nmResolución
1 minuteTomography time (FAST Mode)
Descripción
Conoce el equipo
Versa XRM 730 es un(a) microscopio de rayos X de Zeiss, indicado para tomografía no destructiva, análisis interno 3d, caracterización de materiales. Especificaciones destacadas: Spatial resolution: 450 nm; Tomography time (FAST Mode): 1 minute.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Tomografía no destructiva
Análisis interno 3D
Caracterización de materiales
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del Versa XRM 730
- Spatial resolution
- 450 nm
- Tomography time (FAST Mode)
- 1 minute
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