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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía de rayos X
Xradia 515 Versa
Xradia 515 Versa — microscopio de rayos X de Zeiss (Resolución espacial: 500 nm).
Descripción
Conoce el equipo
Con una resolución líder en su clase, el ZEISS Xradia 515 Versa ofrece una plataforma de trabajo de gran capacidad (workhorse) que rompe la barrera de una micra para la captura de imágenes 3D, haciendo que la investigación de calidad sincrotrón sea aún más práctica para centros de imágenes de tamaño medio y laboratorios industriales. Es el punto de entrada de la familia Versa dentro del portafolio de microscopios de rayos X 3D avanzados de ZEISS.
Los microscopios de rayos X ZEISS Versa cuentan con interfaces de usuario intuitivas que garantizan que cualquier usuario maximice su productividad y consiga resultados excepcionales, priorizando la resolución real en entornos prácticos. Reconocido por su estabilidad y precisión, el compromiso de ZEISS con la calidad garantiza que la inversión resista el paso del tiempo.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio de rayos X 3D de plataforma de trabajo de gran capacidad, el ZEISS Xradia 515 Versa opera en cinco etapas:
Generación de rayos X con fuente sellada RaaD
Una fuente sellada de activación rápida RaaD (Resolution at a Distance) de 25 W genera el haz de rayos X necesario para la captura de imágenes.
Óptica de resolución líder en su clase
El sistema alcanza una resolución espacial de 500 nm, rompiendo la barrera de la micra para la captura de imágenes 3D.
Adquisición acelerada mediante Modo FAST
Habilitado por FPX, el Modo FAST acelera la obtención de resultados sin comprometer la calidad de imagen.
Reconstrucción asistida por inteligencia artificial
La Advanced Reconstruction Toolbox (ART), con sus módulos DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve y OptiRecon, mejora la velocidad de obtención de datos, la velocidad de reconstrucción y la calidad de imagen sin comprometer la resolución.
Guía y control mediante ZEN navx
Una interfaz centrada en el usuario garantiza una experiencia intuitiva que maximiza la productividad para cualquier nivel de experiencia del operador.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Resolución líder en su clase
En una plataforma de trabajo (workhorse) de gran capacidad
Rompe la barrera de la micra
Para captura de imágenes 3D
Investigación de calidad sincrotrón accesible
Práctica para centros de tamaño medio y laboratorios industriales
Resolución espacial de 500 nm
Con fuente sellada RaaD de activación rápida
Fuente RaaD de 25 W
Activación rápida, sellada
Modo FAST habilitado por FPX
Adquisición acelerada
Reconstrucción basada en IA (ART)
DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve, OptiRecon
Actualizable en campo
Dentro de la familia de conversión progresiva Versa
Interfaz ZEN navx
Guía y control centrados en el usuario
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del Xradia 515 Versa
- Spatial Resolution
- 500 nm
- Resolution at a Distance (RaaD) working distance
- 50 mm
- Resolution at a Distance (RaaD)
- 1.0 μm
- Resolution Performance at a Distance @ 50 mm
- 700 nm
- Resolution Performance at a Distance @ 100 mm
- 750 nm
- Minimum Achievable Voxel
- 40 nm
- Voltage Range
- 30 – 160 kV
- Maximum Output
- 10 W
- X-ray Source Architecture
- Sealed transmission, fast activation
- Standard Objectives
- 0.4×, 4×, 20×
- Optional Objectives
- 40×, Flat Panel Extension (FPX)
- Sample stage load capacity
- 25 kg
- Sample stage travel x
- -50 mm
- Sample stage travel y
- -100 mm
- Sample stage travel z
- -50 mm
- Control System
- Scout-and-Zoom
- Flat Panel Extension (FPX) Mode
- STEP Mode only
- Source Filters
- Single manual filter holder, 12 standard filters included
- GPU CUDA-based Reconstruction
- Dual
- Tipo de instrumento
- Microscopio de rayos X 3D (XRM)
- Familia
- ZEISS Versa (Xradia Versa)
- Posicionamiento del modelo
- Plataforma de trabajo (workhorse) de gran capacidad, resolución líder en su clase
- Resolución espacial
- 500 nm
- Fuente
- RaaD (Resolution at a Distance), sellada, activación rápida, 25 W
- Modo de adquisición acelerada
- FAST Mode (habilitado por FPX)
- Tecnología de reconstrucción
- ART: DeepRecon Pro, DeepScout, PhaseEvolve, OptiRecon
- Software de control
- ZEN navx
- Actualización en campo
- Sí, dentro de la familia de conversión progresiva Versa
- Aplicaciones principales
- Investigación de calidad sincrotrón en laboratorio, centros de imágenes de tamaño medio, laboratorios industriales
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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