ZEISS·Microscopía de rayos X
Xradia 515 Versa
Xradia 515 Versa — microscopio de rayos X de Zeiss (Spatial Resolution: 500 nm).
500 nmResolución
50 mmResolución
1.0 μmResolución
Descripción
Conoce el equipo
Xradia 515 Versa es un(a) microscopio de rayos X de Zeiss, indicado para tomografía no destructiva, análisis interno 3d, caracterización de materiales. Especificaciones destacadas: Spatial Resolution: 500 nm; Resolution at a Distance (RaaD) working distance: 50 mm.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Tomografía no destructiva
Análisis interno 3D
Caracterización de materiales
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del Xradia 515 Versa
- Spatial Resolution
- 500 nm
- Resolution at a Distance (RaaD) working distance
- 50 mm
- Resolution at a Distance (RaaD)
- 1.0 μm
- Resolution Performance at a Distance @ 50 mm
- 700 nm
- Resolution Performance at a Distance @ 100 mm
- 750 nm
- Minimum Achievable Voxel
- 40 nm
- Voltage Range
- 30 – 160 kV
- Maximum Output
- 10 W
- X-ray Source Architecture
- Sealed transmission, fast activation
- Standard Objectives
- 0.4×, 4×, 20×
- Optional Objectives
- 40×, Flat Panel Extension (FPX)
- Sample stage load capacity
- 25 kg
- Sample stage travel x
- -50 mm
- Sample stage travel y
- -100 mm
- Sample stage travel z
- -50 mm
- Control System
- Scout-and-Zoom
- Flat Panel Extension (FPX) Mode
- STEP Mode only
- Source Filters
- Single manual filter holder, 12 standard filters included
- GPU CUDA-based Reconstruction
- Dual
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