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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
MULTISEM 706
MultiSEM 706 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Número de haces de electrones: 91).
Descripción
Conoce el equipo
El ZEISS MultiSEM es el microscopio electrónico de barrido más rápido del mundo. En el corazón del sistema se encuentra la imagen multihaz: 91 haces de electrones paralelos visualizan estructuras 2D complejas de forma simultánea y totalmente automática, a una velocidad de imagen incomparablemente alta. Recientemente se presentó la nueva generación del MultiSEM 706, con hasta 4 veces más velocidad de adquisición, mejor calidad de imagen, mayor estabilidad del sistema y una gama aún más amplia de aplicaciones en investigación de ciencias de la vida, semiconductores, electrónica, geociencias y más.
El sistema hace realidad la captura de imágenes de muestras muy grandes, con un portamuestras que cubre un área impresionante de 10 cm × 10 cm. Ya no es necesario elegir entre el tamaño de la muestra y una resolución nanométrica: es posible capturar imágenes de toda la muestra y descubrir todos los detalles necesarios sin perder el contexto macroscópico crucial, gracias a protocolos de adquisición automatizados diseñados específicamente para muestras de gran tamaño.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio electrónico de barrido multihaz, el ZEISS MultiSEM 706 opera en cinco etapas:
Generación y control de 91 haces de electrones paralelos
Visualizan estructuras 2D complejas de forma simultánea y totalmente automática, logrando una velocidad de imagen incomparablemente alta.
Captura de imágenes de alta velocidad
Para un área de 1 cm², el equipo requiere aproximadamente 3 horas con un tamaño de píxel de 3.5 nanómetros, lo que corresponde a una tasa de datos de aproximadamente 3 terabytes por hora.
Detección eficiente de electrones secundarios
Genera imágenes de alto contraste con un ruido muy bajo, gracias a una detección altamente eficiente.
Protocolos de adquisición automatizados para muestras grandes
Un portamuestras que cubre un área de 10 cm × 10 cm, junto con protocolos desarrollados específicamente para muestras de gran tamaño, produce una imagen completa y detallada sin perder el contexto macroscópico.
Control mediante software ZEN
El software estándar e intuitivo utilizado en los microscopios ópticos de ZEISS se ha llevado al mundo de la microscopía electrónica, haciendo que el control del MultiSEM sea sencillo y sin esfuerzo.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
El microscopio electrónico de barrido más rápido del mundo
Tecnología de imagen multihaz
91 haces de electrones paralelos
Visualización simultánea y totalmente automática
Hasta 4x mayor velocidad de adquisición
En la generación más reciente del MultiSEM 706
Tasa de datos de aproximadamente 3 terabytes por hora
Para escaneo de 1 cm² a 3.5 nm de píxel
Portamuestras de gran formato
Cubre 10 cm × 10 cm de la muestra
Imágenes de alto contraste y bajo ruido
Detección eficiente de electrones secundarios
Protocolos de adquisición automatizados
Específicos para muestras de gran tamaño
Control mediante software ZEN
Estándar de microscopía óptica llevado a la electrónica
Compatible con tomografía en matriz (array tomography)
Reconstrucción 3D de volúmenes superiores a 1 mm³
Amplia gama de aplicaciones
Ciencias de la vida, semiconductores, electrónica, geociencias
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del MULTISEM 706
- Número de haces de electrones
- 91
- Velocidad de escaneo
- 80 MHz
- Tiempo de permanencia de píxel
- 12.5 ns
- Área de muestra
- 10 x 10 cm
- Tamaño de píxel
- 4 nm
- Tiempo de adquisición para 1 mm²
- menos de dos minutos
- Tasa de adquisición
- más de 3 TB/hora
- Velocidad de adquisición máxima
- 1.22 gigapíxeles/segundo
- Energía de aterrizaje
- 1 keV
- Tipo de instrumento
- Microscopio electrónico de barrido multihaz de alta velocidad
- Número de haces de electrones paralelos
- 91
- Velocidad de imagen (familia MultiSEM)
- Hasta 1,820 megapíxeles por segundo
- Tiempo para escanear 1 cm²
- Aproximadamente 3 horas, a 3.5 nm de tamaño de píxel
- Tasa de datos
- Aproximadamente 3 terabytes por hora
- Mejora de velocidad de adquisición (generación reciente)
- Hasta 4x
- Área máxima del portamuestras
- 10 cm × 10 cm
- Energía de aterrizaje mínima demostrada
- 1 keV (bajo contraste)
- Tamaño de píxel demostrado
- Desde 3.5 nm hasta 4 nm, según aplicación
- Detección
- Electrones secundarios, alta eficiencia, bajo ruido
- Software
- ZEN (adaptado de microscopía óptica a electrónica)
- Aplicaciones principales
- Conectómica y neurociencia (mapeo de tejido cerebral >1 mm³), semiconductores y electrónica (ingeniería inversa, control de procesos, análisis de fallos), geociencias, ciencias de la vida
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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