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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
GEMINISEM 560
GeminiSEM 560 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Resolución: menos de 1 nm).
Descripción
Conoce el equipo
ZEISS GeminiSEM significa captura de imágenes sin esfuerzo con resolución subnanométrica. Estos microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) combinan una excelente captura de imágenes y capacidad de análisis para las exigencias más altas en imágenes subnanométricas, análisis y flexibilidad de muestras. El GeminiSEM 560 representa el nuevo estándar para la captura de imágenes de superficie dentro de la familia GeminiSEM, que también incluye el GeminiSEM 360 (ideal para instalaciones centrales) y el GeminiSEM 460 (análisis eficiente).
La obtención de imágenes de contraste magnético es sencilla con el GeminiSEM 560, gracias a un campo magnético en la muestra inferior a 2 mT, lo que lo hace especialmente adecuado para el estudio de materiales magnéticos sin distorsionar la imagen. Combina imágenes espectroscópicas de energía con imágenes espectroscópicas angulares de electrones de forma simultánea, ofreciendo información analítica muy completa en una sola adquisición.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio electrónico de barrido de emisión de campo orientado a imágenes de superficie, el ZEISS GeminiSEM 560 opera en cinco etapas:
Captura de imágenes subnanométrica
Innovaciones en la óptica de electrones y un nuevo diseño de cámara permiten tomar imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV, sin necesidad de lentes de inmersión.
Imágenes de contraste magnético
Un campo magnético en la muestra inferior a 2 mT permite obtener imágenes de contraste magnético de forma sencilla, sin distorsionar la muestra ni el haz de electrones.
Imágenes espectroscópicas duales y simultáneas
El detector de retrodispersión Inlens, selectivo en energía, realiza imágenes espectroscópicas de energía mientras incorpora simultáneamente imágenes espectroscópicas angulares de electrones mediante el detector de retrodispersión anular.
Análisis químico y cristalográfico
Dos puertos EDS diametralmente opuestos, junto con una configuración EDS/EBSD coplanar, ofrecen una caracterización eficaz de la composición química y la orientación de los cristales, con mapeo sin sombras a alta velocidad.
Reunión y reporte de datos con ZEN Connect
Todos los datos generados se reúnen para segmentar e informar sobre los hallazgos con facilidad, dentro del ecosistema de software ZEN de ZEISS.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Nuevo estándar para imágenes de superficie
Posicionamiento específico dentro de la familia GeminiSEM
Imágenes de contraste magnético sencillas
Campo magnético en la muestra inferior a 2 mT
Doble detector de retrodispersión
Inlens selectivo en energía + anular, para imágenes simultáneas
Imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV
Sin necesidad de lentes de inmersión
Dos puertos EDS diametralmente opuestos
Configuración EDS/EBSD coplanar
Mapeo sin sombras a alta velocidad
Caracterización eficaz de composición química y orientación cristalina
Reunión de datos con ZEN Connect
Segmentación e informe de hallazgos simplificados
Configurable con módulo EBSD y software TOCA
Herramienta para orientación y análisis cristalográfico
Software ZEN core
Interfaz unificada para control de SEM y FIB-SEM
Ampliable con solución in situ
Experimentos automatizados de calentamiento y tracción mecánica
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del GEMINISEM 560
- Resolución
- sub-nanometer
- Resolución
- below 1 nm
- Voltaje de aceleración
- 1 kV
- Voltaje de aceleración
- 800 V
- Voltaje de aceleración
- 30 kV
- Voltaje de aceleración
- 20 kV
- Voltaje de aceleración
- 5 kV
- Corriente de haz
- 5 nA
- Campo magnético en la muestra
- less than 2 mT
- Campo magnético en la muestra
- 3× lower
- Campo magnético en la muestra
- 1 mT
- Distancia de trabajo
- 5 mm
- Aumento
- 1× up to 2,000,000×
- Tamaño de marco de imagen
- 32k × 24k
- Energía de electrones secundarios
- less than 50 eV
- Ángulo de electrones retrodispersados
- 15 degree
- Velocidad de indexación EBSD
- 4000 patterns/s
- Puntos EBSD capturados
- 185 thousand
- Tiempo de análisis EBSD
- 20 minutes
- Tipo de instrumento
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM)
- Familia
- ZEISS GeminiSEM (360, 460, 560)
- Posicionamiento del modelo
- Nuevo estándar para imágenes de superficie
- Campo magnético en la muestra
- Inferior a 2 mT (ideal para contraste magnético)
- Detectores de retrodispersión
- Inlens selectivo en energía + anular (imágenes simultáneas)
- Resolución
- Subnanométrica, por debajo de 1 kV, sin lente de inmersión
- Puertos EDS
- 2, diametralmente opuestos
- Configuración EBSD
- Coplanar con EDS
- Módulo de análisis opcional
- EBSD, con software TOCA (Tool for Orientation and Crystallographic Analysis)
- Software de control
- ZEN core (interfaz unificada SEM/FIB-SEM)
- Software de gestión de datos
- ZEN Connect
- Software de análisis de imagen
- ZEN Intellesis (segmentación por aprendizaje automático)
- Expansión disponible
- Solución in situ para experimentos de calentamiento y tracción mecánica
- Aplicaciones principales
- Materiales magnéticos, nanotecnología, investigación de materiales, ciencias de la vida, semiconductores, materias primas
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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