Guía de compra
Microscopía electrónica para laboratorio
Técnica de imagen de muy alta resolución que utiliza un haz de electrones en lugar de luz visible para observar la estructura y morfología de la muestra a escala micro y nanométrica; incluye microscopía electrónica de barrido (SEM).
Caracterización de materiales, semiconductores, nanomateriales, superficies y estructuras biológicas donde la resolución óptica es insuficiente, en investigación, industria de materiales y control de calidad.
Cómo elegir microscopía electrónica
- Resolución requerida
- Tipo de detectores
- Rango de voltaje de operación
- Preparación de muestra admisible
- Entorno de vacío y de las capacidades de análisis y software
Preguntas frecuentes sobre microscopía electrónica
¿Qué resolución alcanza un microscopio electrónico de barrido (SEM)?
Del orden de nanómetros — órdenes de magnitud más allá del microscopio óptico, cuyo límite físico ronda los 200 nm. Permite observar morfología superficial, nanoestructuras y defectos invisibles para la óptica.
¿Qué muestras puedo observar y cómo se preparan?
Sólidos conductores se observan casi directo; los no conductores suelen recubrirse con una capa metálica fina o analizarse en modos de bajo vacío que admiten muestras aislantes e incluso húmedas, según el equipo.
¿Qué es el análisis EDX/EDS que acompaña al SEM?
Espectroscopía de rayos X por dispersión de energía: identifica la composición elemental del punto observado y genera mapas químicos de la superficie. Une la imagen con el "de qué está hecho".
¿Qué requiere la instalación de un SEM?
Sitio estable: aislamiento de vibraciones, control de campos electromagnéticos, clima controlado y suministros. La evaluación de sitio previa es parte del proyecto — Inolab, con ZEISS, la realiza en México.
Marcas que representamos en microscopía electrónica
Modelos de microscopía electrónica disponibles
- EVO 10ZEISS
- EVO 15ZEISS
- EVO 25ZEISS
- GEMINISEM 460ZEISS
- GEMINISEM 560ZEISS
- MULTISEM 706ZEISS
- SIGMA 360ZEISS
- SIGMA 560ZEISS
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