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Microscopía electrónica para laboratorio

Técnica de imagen de muy alta resolución que utiliza un haz de electrones en lugar de luz visible para observar la estructura y morfología de la muestra a escala micro y nanométrica; incluye microscopía electrónica de barrido (SEM).

Guía de microscopía electrónica

Caracterización de materiales, semiconductores, nanomateriales, superficies y estructuras biológicas donde la resolución óptica es insuficiente, en investigación, industria de materiales y control de calidad.

Cómo elegir microscopía electrónica

  • Resolución requerida
  • Tipo de detectores
  • Rango de voltaje de operación
  • Preparación de muestra admisible
  • Entorno de vacío y de las capacidades de análisis y software

Preguntas frecuentes sobre microscopía electrónica

¿Qué resolución alcanza un microscopio electrónico de barrido (SEM)?

Del orden de nanómetros — órdenes de magnitud más allá del microscopio óptico, cuyo límite físico ronda los 200 nm. Permite observar morfología superficial, nanoestructuras y defectos invisibles para la óptica.

¿Qué muestras puedo observar y cómo se preparan?

Sólidos conductores se observan casi directo; los no conductores suelen recubrirse con una capa metálica fina o analizarse en modos de bajo vacío que admiten muestras aislantes e incluso húmedas, según el equipo.

¿Qué es el análisis EDX/EDS que acompaña al SEM?

Espectroscopía de rayos X por dispersión de energía: identifica la composición elemental del punto observado y genera mapas químicos de la superficie. Une la imagen con el "de qué está hecho".

¿Qué requiere la instalación de un SEM?

Sitio estable: aislamiento de vibraciones, control de campos electromagnéticos, clima controlado y suministros. La evaluación de sitio previa es parte del proyecto — Inolab, con ZEISS, la realiza en México.

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