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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
SIGMA 360
Sigma 360 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Resolución a bajo kV a 500 V: 1.9 nm).
Descripción
Conoce el equipo
La familia ZEISS Sigma combina la tecnología del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario, permitiendo organizar rutinas de análisis y captura de imágenes para aumentar la productividad. Es adecuada para estudiar nuevos materiales, partículas para inspección de calidad, o muestras biológicas o geológicas. Con la familia Sigma, ZEISS ofrece una puerta de entrada al mundo del nanoanálisis de alta gama.
El Sigma 360 es la elección de las instalaciones centrales de captura de imágenes: un FE-SEM intuitivo para la captura de imágenes y el análisis. No es necesario hacer concesiones en la captura de imágenes de alta resolución: el equipo recurre a bajas tensiones y se beneficia de una mejor resolución y contraste a 1 kV o menos, junto con microscopía analítica avanzada gracias a la mejor geometría EDS de su clase, obteniendo datos analíticos al doble de velocidad y con mayor precisión.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio electrónico de barrido de emisión de campo para instalaciones centrales, el ZEISS Sigma 360 opera en cinco etapas:
Emisión de campo y captura a bajo voltaje
Sin concesiones en la resolución de alta calidad, el equipo recurre a bajas tensiones; la resolución a pocos kV para el Sigma 360 se especifica ahora a 500 V con 1.9 nm.
Mejora de resolución a 1 kV
Se ha conseguido una mejora de más del 10% en la resolución a 1 kV, minimizando las aberraciones cromáticas.
Microscopía analítica avanzada
La mejor geometría EDS de su clase permite obtener datos analíticos al doble de velocidad y con mayor precisión.
Extensión opcional RISE
El sistema puede ampliarse con captura de imágenes Raman confocales totalmente integrada (RISE), obteniendo una huella química y estructural de la muestra, reconociendo información molecular y cristalográfica, y realizando análisis 3D que correlacionan la captura de imágenes SEM con la cartografía Raman y los datos EDS.
Control mediante ZEN core
Una interfaz de usuario única y estandarizada optimiza y hace intuitivos la captura y el análisis de imágenes, permitiendo flujos de trabajo correlativos y multimodales.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
La elección de las instalaciones centrales de captura de imágenes
FE-SEM intuitivo para captura de imágenes y análisis
Resolución a pocos kV
1.9 nm a 500 V
Mejora de resolución a 1 kV
Más del 10%, con menor aberración cromática
Mejor geometría EDS de su clase
Datos analíticos al doble de velocidad y con mayor precisión
Extensión RISE disponible
Captura de imágenes Raman confocales totalmente integrada
Entrada al nanoanálisis de alta gama
Puerta de acceso accesible dentro del portafolio ZEISS
Bajas tensiones sin comprometer resolución
Mejor resolución y contraste a 1 kV o menos
Software ZEN core
Interfaz unificada para control de SEM y FIB-SEM
Flujos de trabajo correlativos y multimodales
Integración de captura de imágenes y análisis
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del SIGMA 360
- Low-kV resolution at 500 V
- 1.9 nm
- 1 kV resolution improvement
- more than 10%
- Tipo de instrumento
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM)
- Familia
- ZEISS Sigma
- Posicionamiento del modelo
- Instalaciones centrales de captura de imágenes
- Resolución a pocos kV
- 1.9 nm a 500 V
- Mejora de resolución a 1 kV
- Superior al 10%, frente a generación anterior
- Geometría EDS
- La mejor de su clase (según ZEISS)
- Velocidad de datos analíticos
- Hasta el doble, con mayor precisión
- Extensión opcional
- RISE (Raman Imaging and Scanning Electron microscopy)
- Software de control
- ZEN core
- Aplicaciones principales
- Nuevos materiales, inspección de calidad de partículas, muestras biológicas o geológicas, nanoanálisis
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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