ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
SIGMA 360
SIGMA 360 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Low-kV resolution at 500 V: 1.9 nm).
1.9 nmResolución
more than 10%Resolución
Descripción
Conoce el equipo
SIGMA 360 es un(a) microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss, indicado para imagenología de alta resolución, análisis de superficie, caracterización de materiales. Especificaciones destacadas: Low-kV resolution at 500 V: 1.9 nm; 1 kV resolution improvement: more than 10%.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Imagenología de alta resolución
Análisis de superficie
Caracterización de materiales
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del SIGMA 360
- Low-kV resolution at 500 V
- 1.9 nm
- 1 kV resolution improvement
- more than 10%
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