Personal técnico certificado por los fabricantes
Ficha técnica
ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
EVO 10
EVO 10 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Dimensiones de la cámara, diámetro (Ø) × altura (h): Ø 310 × h 220 mm).
Descripción
Conoce el equipo
El EVO 10, con detector de retrodispersión y sistema Element EDS opcionales, es el punto de entrada a la microscopía electrónica de barrido a un precio notablemente asequible. Incluso siendo la cámara de vacío más pequeña de la familia EVO, se diferencia claramente de los SEM de sobremesa. Ofrece la funcionalidad de un SEM convencional junto con la velocidad y facilidad de uso habitualmente asociadas a las soluciones de sobremesa, todo a un precio muy atractivo.
Los instrumentos de la familia EVO combinan la microscopía electrónica de barrido de alto rendimiento con una experiencia intuitiva y sencilla, atractiva tanto para usuarios experimentados como nuevos. Es fácil de usar incluso para no microscopistas, gracias a la interfaz SmartSEM Touch, que pone el control interactivo del flujo de trabajo al alcance de la mano y reduce drásticamente el esfuerzo y el costo de capacitación. La familia EVO también incluye el EVO 15 (aplicaciones analíticas, cámara más grande con presión variable) y el EVO 25 (solución robusta industrial para piezas y ensamblajes de mayor tamaño).
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio electrónico de barrido de entrada, el ZEISS EVO 10 opera en cinco etapas:
Generación de haz con fuente térmica
Utiliza un filamento de tungsteno (W) estándar, o un emisor opcional de hexaboruro de lantano (LaB6) que ofrece mayor brillo del haz, mejor resolución de imagen y menor ruido.
Selección de modo de vacío
Alto vacío, presión variable o alta presión (ambiente), según el tipo de muestra, permitiendo incluso visualizar muestras hidratadas sin necesidad de secado agresivo ni recubrimiento metálico.
Detección multimodal
Tecnologías de detección SE, C2D, C2DX, BSE y EDS, seleccionables según la aplicación requerida.
Análisis EDS opcional
El sistema Element EDS y un detector de retrodispersión opcional permiten el análisis de composición química de la muestra.
Operación intuitiva y automatizada
La interfaz SmartSEM Touch facilita el control interactivo del flujo de trabajo; funciones de automatización, como ZEISS Automated Intelligent Imaging, permiten la operación desatendida y la adquisición de imágenes en lotes de muestras.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Punto de entrada a la microscopía electrónica de barrido
Precio notablemente asequible
Cámara de vacío más pequeña de la familia EVO
Aún bien diferenciada de los SEM de sobremesa
Múltiples modos de vacío
Alto vacío, presión variable, alta presión
Emisor opcional LaB6
Mayor brillo, mejor resolución, menor ruido
Sistema Element EDS y detector de retrodispersión opcionales
Análisis de composición química
Interfaz SmartSEM Touch
Fácil de aprender, reduce esfuerzo y costos de capacitación
Ventilado de cámara en aproximadamente 1 minuto
Intercambio rápido de muestras
Automatización para operación desatendida
Flujos de trabajo repetibles para inspección industrial
Software ZEN core
Interfaz unificada para control de SEM y FIB-SEM
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del EVO 10
- Chamber dimensions diameter (Ø) x height (h)
- Ø 310 × h 220 mm
- Maximum specimen heights
- 130 mm
- Maximum specimen diameter
- 230 mm
- Motorized stage travel XYZ
- 100 × 90 × 50 mm
- Tipo de instrumento
- Microscopio electrónico de barrido (SEM), fuente térmica convencional (CSEM)
- Familia
- ZEISS EVO (10, 15, 25)
- Posicionamiento del modelo
- Punto de entrada, precio asequible
- Resolución
- 3 nm en modo VP; 3.4 nm a 30 kV, SE, modo VP, con LaB6 o W
- Voltaje de aceleración
- 0.2 a 30 kV
- Corriente de sonda
- 0.5 pA a 5 µA
- Aumento
- Menor a 7x hasta 1,000,000x
- Campo de visión
- 6 mm a distancia de trabajo analítica (AWD)
- Dimensiones de la cámara
- 310 mm (Ø) x 220 mm (alto)
- Platina motorizada
- 5 ejes: X = 80 mm, Y = 100 mm, Z = 35 mm, T = -10° a 90°, R = 360° (continua)
- Altura máxima de espécimen
- 100 mm
- Modos de vacío
- Alto vacío, presión variable, alta presión
- Fuente de electrones
- Tungsteno (W) estándar, LaB6 opcional
- Detección
- SE, C2D, C2DX, BSE, EDS
- Software
- SmartSEM Touch, ZEN core
- Aplicaciones principales
- Caracterización rutinaria de materiales, control de calidad industrial, análisis de fallos, estudios de partículas y morfología de superficies, muestras biológicas hidratadas
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Equipos relacionados
También te puede interesar
¿Te interesa el EVO 10?
Cuéntanos tu aplicación y un especialista de Inolab te ayuda con la configuración, la demostración y la cotización.