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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
GEMINISEM 460
GeminiSEM 460 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Columna óptica de electrones: Gemini 2).
Descripción
Conoce el equipo
ZEISS GeminiSEM significa captura de imágenes sin esfuerzo con resolución subnanométrica. Estos microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEM) combinan una excelente captura de imágenes y capacidad de análisis para las exigencias más altas en imágenes subnanométricas, análisis y flexibilidad de muestras. El GeminiSEM 460, con su columna óptica de electrones Gemini 2, permite un análisis eficiente y cumple las tareas más desafiantes en microscopía analítica, dentro de la familia GeminiSEM que también incluye el GeminiSEM 360 (ideal para instalaciones centrales) y el GeminiSEM 560 (nuevo estándar para imágenes de superficie).
Este microscopio es capaz de detectar características de forma, como relieve y textura, con una gran profundidad de campo — por ejemplo, permite observar insectos diminutos, semillas, probetas de metales, madera, plásticos, rocas y suelos. Su versatilidad permite su uso en análisis de fallas en piezas mecánicas, observación de detalles finos en fabricación de productos pequeños, determinación de microestructuras de metales, cerámicos, rocas y minerales (relevante en metalurgia, minería, arte o antropología), y en el diseño de baterías, nanomateriales y materiales electrónicos como transistores y sensores, además de aplicaciones en biotecnología.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, el ZEISS GeminiSEM 460 opera en cinco etapas:
Emisión de campo y óptica Gemini 2
La columna óptica de electrones Gemini 2 está diseñada específicamente para cumplir las tareas más exigentes de microscopía analítica.
Captura de imágenes subnanométrica
Innovaciones en la óptica de electrones y un nuevo diseño de cámara permiten tomar imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV, sin necesidad de lentes de inmersión.
Cambio fluido entre condiciones analíticas y de imagen
El sistema permite alternar sin problemas entre estas condiciones en una amplia gama de corrientes de sonda.
Análisis químico y cristalográfico
Dos puertos EDS diametralmente opuestos, junto con una configuración EDS/EBSD coplanar, ofrecen una caracterización eficaz de la composición química y la orientación de los cristales, con mapeo sin sombras a alta velocidad.
Control y análisis con ZEN core
Una interfaz de usuario única y estandarizada optimiza y hace intuitivos la captura y el análisis de imágenes, permitiendo flujos de trabajo correlativos y multimodales; ZEN Intellesis facilita la segmentación de imágenes mediante aprendizaje automático (clasificación de píxeles o deep learning), incluso para usuarios no expertos.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Columna óptica de electrones Gemini 2
Diseñada para las tareas más exigentes de microscopía analítica
Imágenes subnanométricas por debajo de 1 kV
Sin necesidad de lentes de inmersión
Cambio fluido entre modos analítico y de imagen
En una amplia gama de corrientes de sonda
Dos puertos EDS diametralmente opuestos
Configuración EDS/EBSD coplanar
Mapeo sin sombras a alta velocidad
Caracterización eficaz de composición química y orientación cristalina
Configurable con módulo EBSD y software TOCA
Herramienta para orientación y análisis cristalográfico
Software ZEN core
Interfaz unificada para control de SEM y FIB-SEM
ZEN Intellesis con aprendizaje automático
Segmentación fiable incluso para usuarios no expertos
Ampliable con solución in situ
Experimentos automatizados de calentamiento y tracción mecánica
Gran profundidad de campo
Detección de forma, relieve y textura en múltiples materiales
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del GEMINISEM 460
- Electron optical column
- Gemini 2
- EBSD indexing rate
- 4000 patterns/s
- Magnification range
- 1× to 2,000,000×
- Magnetic field on sample
- less than 2 mT
- Tipo de instrumento
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM)
- Familia
- ZEISS GeminiSEM (360, 460, 560)
- Posicionamiento del modelo
- Análisis eficiente, tareas exigentes de microscopía analítica
- Columna óptica de electrones
- Gemini 2
- Resolución
- Subnanométrica, por debajo de 1 kV, sin lente de inmersión
- Puertos EDS
- 2, diametralmente opuestos
- Configuración EBSD
- Coplanar con EDS
- Detector opcional
- Retrodispersado sensible
- Platina opcional
- 6 ejes, de precisión
- Módulo de análisis opcional
- EBSD, con software TOCA (Tool for Orientation and Crystallographic Analysis)
- Software de control
- ZEN core (interfaz unificada SEM/FIB-SEM)
- Software de análisis de imagen
- ZEN Intellesis (segmentación por aprendizaje automático)
- Expansión disponible
- Solución in situ para experimentos de calentamiento y tracción mecánica
- Aplicaciones principales
- Nanotecnología, investigación de materiales, ciencias de la vida, semiconductores, materias primas, análisis de fallos, metalurgia, minería, diseño de baterías y nanomateriales, biotecnología
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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