EVO 15

EVO 15 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Voltaje de aceleración: 3 kV).

3 kVVoltaje

10 kVVoltaje

Cotizar o consultar

Microscopio electrónico de barrido SEM/FIB EVO 15 de Zeiss para imagenología de alta resolución y caracterización de materiales.

Descripción

Conoce el equipo

El EVO 15 destaca en aplicaciones analíticas dentro de la familia modular EVO de ZEISS. Frente al EVO 10 (documentado previamente en esta conversación), ofrece una cámara de vacío más grande y la posibilidad de añadir presión variable para examinar muestras no conductoras, siendo una solución flexible y multipropósito, disponible tanto para instalaciones centrales de microscopía como para laboratorios industriales de aseguramiento de calidad.

Es un SEM fácil de usar incluso para principiantes, requiriendo apenas medio día de capacitación para adquirir confianza en la mayoría de las aplicaciones comunes. Es especialmente útil para el examen inicial de muestras: imágenes de superficies pulidas y recubiertas con carbono de rocas y minerales (la aplicación más frecuente antes de un análisis de composición detallado), y captura de detalles finos de superficie en especímenes conductores o recubiertos con metal, incluidos los biológicos.

Aplicaciones ideales

Resuelve tu aplicación

Imagenología de alta resolución

Análisis de superficie

Caracterización de materiales

Principio de funcionamiento

Así trabaja por ti

Como microscopio electrónico de barrido para aplicaciones analíticas, el ZEISS EVO 15 opera en cinco etapas:

Generación de haz con fuente térmica

Utiliza un filamento de tungsteno (W) estándar, o un emisor opcional de hexaboruro de lantano (LaB6), que ofrece un excelente rendimiento señal-ruido, buen contraste y una operación estable a largo plazo, con aproximadamente diez veces más brillo que un filamento de tungsteno estándar, lo que se traduce en mejor resolución.

Selección de modo de vacío

Alto vacío estándar, presión variable o modo ambiental, según el tipo de muestra: en modo de alto vacío, las muestras conductoras se capturan con el detector convencional de electrones secundarios o el de retrodispersión.

Detección multimodal ampliada

Incluye detectores de electrones secundarios estándar, retrodispersados, electrones secundarios en modo de presión variable (VPSE), y un detector de cascada de rango extendido (C2DX) para muestras difíciles.

Análisis EDS opcional

Sistemas de espectroscopía de energía dispersiva de rayos X (EDS) permiten el análisis de composición química, complementando la captura de imágenes de retrodispersión (BEI), que muestra variaciones de composición en distintos tonos de gris.

Operación intuitiva y automatizada

La interfaz SmartSEM Touch facilita el control interactivo del flujo de trabajo; ZEISS Automated Intelligent Imaging permite definir una región de contorno, generar automáticamente regiones de interés y comenzar la adquisición de imágenes de forma automatizada, ideal para tareas repetitivas de inspección.

Características destacadas

Lo que lo hace diferente

Destaca en aplicaciones analíticas

Solución flexible y multipropósito

Cámara de vacío más grande que el EVO 10

Con opción de presión variable para muestras no conductoras

Fácil de usar incluso para principiantes

Apenas medio día de capacitación necesario

Emisor opcional LaB6

~10 veces más brillo que tungsteno estándar, mejor resolución

Amplia gama de detectores

SE, retrodispersados, VPSE, cascada de rango extendido (C2DX)

Ideal para examen inicial de muestras

Rocas, minerales, biológicas, superficies metálicas

Análisis EDS opcional

Composición química complementaria a imágenes BEI

Automatización para inspección repetitiva

ZEISS Automated Intelligent Imaging

Software ZEN core

Interfaz unificada para control de SEM y FIB-SEM

Especificaciones técnicas

Especificaciones
del EVO 15

Acelerating voltage: 3 kV
Acelerating voltage: 10 kV
Tipo de instrumento: Microscopio electrónico de barrido (SEM), fuente térmica convencional (CSEM)
Familia: ZEISS EVO (10, 15, 25)
Posicionamiento del modelo: Aplicaciones analíticas, solución flexible multipropósito
Resolución: 3 nm en modo VP; 3.4 nm a 30 kV, SE, modo VP, con LaB6 o W
Voltaje de aceleración: 0.2 a 30 kV
Corriente de sonda: 0.5 pA a 5 µA
Aumento: Menor a 5x hasta 1,000,000x
Campo de visión: 6 mm a distancia de trabajo analítica (AWD)
Dimensiones de la cámara: 365 mm (Ø) x 275 mm (alto)
Platina motorizada: 5 ejes: X = 125 mm, Y = 125 mm, Z = 50 mm, T = -10° a 90°, R = 360° (continua)
Altura máxima de espécimen: 145 mm
Modos de vacío: Alto vacío, presión variable, ambiental
Fuente de electrones: Tungsteno (W) estándar, LaB6 opcional
Detección: SE, retrodispersados (BSD), VPSE, C2DX, EDS opcional
Software: SmartSEM Touch, ZEN core
Aplicaciones principales: Rocas y minerales, control de calidad de superficies metálicas, materiales manufacturados aditivamente, muestras biológicas, aseguramiento de calidad industrial
Fabricante: Carl Zeiss Microscopy GmbH