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Ficha técnica
ZEISS·Microscopía electrónica (SEM/FIB)
SIGMA 560
Sigma 560 — microscopio electrónico (SEM/FIB) de Zeiss (Resolución a bajo kV a 500 V: 1.5 nm).
Descripción
Conoce el equipo
La familia ZEISS Sigma combina la tecnología del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario, estructurando las rutinas de captura de imágenes y análisis para aumentar la productividad. El Sigma 560 utiliza la mejor geometría EDS de su clase para ofrecer análisis de alto rendimiento y permitir experimentos in situ automatizados, siendo el modelo de la familia orientado a productividad analítica avanzada.
No es necesario hacer concesiones en la captura de imágenes de alta resolución: el equipo recurre a bajas tensiones y se beneficia de una mejor resolución y contraste a 1 kV o menos. Es adecuado para estudiar nuevos materiales, partículas para inspección de calidad, muestras biológicas o geológicas, incluyendo aplicaciones en metales, rocas y minerales, así como ultraestructura biológica mediante imágenes de caras de bloque en serie.
Aplicaciones ideales
Resuelve tu aplicación
Principio de funcionamiento
Así trabaja por ti
Como microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de alto rendimiento analítico, el ZEISS Sigma 560 opera en cinco etapas:
Emisión de campo a bajo voltaje
El equipo recurre a bajas tensiones para obtener una mejor resolución y contraste a 1 kV o menos, sin comprometer la calidad de imagen.
Geometría EDS de doble puerto
Dos puertos EDS diametralmente opuestos a 180° garantizan el rendimiento y un mapeo sin sombras, incluso con baja corriente de haz y baja tensión de aceleración.
Análisis más allá de EDS
Puertos adicionales para EBSD y WDS en la cámara permiten ampliar las capacidades analíticas del sistema.
Imágenes en muestras difíciles
El nuevo modo NanoVP lite permite analizar incluso muestras no conductoras con más señal y contraste, mientras que el nuevo detector aBSD4 facilita la obtención de imágenes en muestras altamente topográficas.
Experimentos in situ automatizados
Un laboratorio in situ totalmente integrado permite obtener resultados independientes del operador en pruebas de calentamiento y tracción, dentro de un flujo de trabajo desatendido y automatizado; el software ZEISS SmartSEM Touch automatiza la navegación, la configuración de parámetros y la adquisición de imágenes.
Características destacadas
Lo que lo hace diferente
Geometría EDS de doble puerto (180°)
Rendimiento y mapeo sin sombras
Puertos adicionales para EBSD y WDS
Análisis más allá de EDS
Modo NanoVP lite
Análisis de muestras no conductoras con más señal y contraste
Nuevo detector aBSD4
Imágenes fáciles en muestras altamente topográficas
Laboratorio in situ totalmente integrado
Pruebas de calentamiento y tracción automatizadas
Software SmartSEM Touch
Automatización de navegación y adquisición de imágenes
Alto rendimiento analítico
Orientado a experimentos automatizados
Bajas tensiones sin comprometer resolución
Mejor resolución y contraste a 1 kV o menos
Resultados independientes del operador
Flujo de trabajo desatendido
Especificaciones técnicas
Especificaciones
del SIGMA 560
- low-kV resolution at 500 V
- 1.5 nm
- EDS ports
- two 180° diametrically-opposed
- acceleration voltage range for NanoVP lite mode
- 3 kV
- Tipo de instrumento
- Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM)
- Familia
- ZEISS Sigma
- Posicionamiento del modelo
- Alto rendimiento analítico, experimentos in situ automatizados
- Puertos EDS
- 2, diametralmente opuestos a 180°
- Puertos adicionales
- EBSD, WDS
- Modo de imagen para no conductores
- NanoVP lite
- Detector adicional
- aBSD4 (muestras altamente topográficas)
- Laboratorio in situ
- Totalmente integrado, pruebas de calentamiento y tracción
- Software
- SmartSEM Touch (automatización)
- Diodo BSD (configuración de ejemplo)
- Basado en silicio, detección directa de electrones retrodispersados, un segmento
- Distancia de trabajo óptima (ejemplo)
- 4–6 mm
- Rango de energía (ejemplo)
- ≤ 7 keV
- Corriente de haz primario óptima (ejemplo)
- 50 pA – 1 nA
- Aplicaciones principales
- Nuevos materiales, control de calidad de partículas, muestras biológicas o geológicas, metales, rocas y minerales, ultraestructura biológica
- Fabricante
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
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